应新一代半导体材料研究院教授韩吉胜邀请，5月22日-25日，澳大利亚格里菲斯大学昆士兰微纳米技术中心Philip George Tanner教授到访研究院开展学术交流。

图：Philip教授与器件团队韩吉胜等教师合影

Philip教授围绕“功率半导体器件的电气测量”主题，结合其在海外高校的多年研究经验以及该科研领域的最新发展情况，与平台师生展开了交流讨论。Philip教授从基础理论出发，详细介绍了晶片级的小电流测试、大电压测试、电容电压测试以及封装器件测试和浪涌测试的技术方法，同时结合工作案例揭示了该领域的实际应用研究和未来发展趋势。

访问期间，Philip教授来到平台功率器件测试实验室与超净实验室指导实验工作。Philip教授在与师生互动中强调，正确掌握功率器件的测试表征方法对于器件设计与工艺改善至关重要。他一一解答师生疑问，并通过实际操作进行演示。

图：Philip在超净实验室与员工交流探讨并实际操作演示

图：韩吉胜为Philip介绍功率器件测试实验室建设情况

图：Philip与师生交流测试方法并耐心解答问题

Philip George Tanner教授于1978年在澳大利亚昆士兰大学获得电气工程学士学位，并于1996年在格里菲斯大学微电子工程学院获得博士学位，现就职于澳大利亚格里菲斯大学昆士兰微纳米技术中心。他在半导体材料和器件的电气和物理特性方面拥有30多年的经验，研究领域包括薄膜太阳能电池、硅基微电子器件以及SiC和氮化镓功率器件。